性能分析

多功能薄膜光学分析仪
联系人:刘园园
联系邮箱:liuyy@fudan.edu.cn
放置地点:江湾校区先进材料楼237室
设备型号:Analyzer 1280
设备厂家:n&k Technology
主要规格及技术指标:可测量波长范围190nm~1000nm😹;基板大小:2、3、4、6寸大小或破片,不透光与透光基板皆可🤸🏿♂️。
主要功能及特色:可测量介电材料🫸🏼、半导体🕊、透明导体🔷、高分子材料等𓀛。反射光谱与透射光谱测量,获得薄膜厚度🙈、消光因子、折射率。